Explorer

Flessibilità e Modularità senza limiti

Explorer è un diffrattometro multiuso – Theta/Theta – ad alta risoluzione che, grazie ai suoi motori torque ad azionamento diretto, offre prestazioni al top in molte aree analitiche, dall’analisi di fase alla determinazione delle proprietà microstrutturali su materiali sfusi o a film sottile.

100%

Made in Italy

Controllo qualità metalli

con OES/RDE

Controllo proprietà materiali

con XRD/TXR

World Wide

Distribution

Complete Description

Grazie alla sua modularità e all’ampia gamma di accessori disponibili, Explorer permette di eseguire misure in diverse configurazioni:

  • X-Ray Powder Diffraction (XPD)
  • Reflectometry (XRR)
  • Grazing Incidence X-Ray Diffraction (GIXRD)
  • High Resolution X-Ray Diffraction (HRXRD)
  • Total X-Ray Fluorescence (TXRF)
  • Residual Stress and Texture X-Ray Diffraction

 

La modularità e la flessibilità del sistema di GNR Explorer consente di iniziare con un sistema entry-level che può essere aggiornato per soddisfare nuove esigenze. GNR può fornire un’ampia gamma di sorgenti di raggi X, ottiche, porta-campioni, rilevatori e configurazioni per soddisfare tutte le esigenze analitiche.

Senza limiti nelle sue applicazioni, il sistema modulare Explorer offre elevate prestazioni in tutte le aree analitiche, dalla quantificazione delle fasi delle miscele, alla determinazione delle proprietà microstrutturali come stress residuo e orientamento preferito dei cristalliti su materiali sfusi e su film sottili.

Product Applications

  • Identificazione e quantificazione di routine della fase cristallina
  • Dimensione dei cristalliti: deformazione reticolare e calcolo della cristallinità
  • Screening dei polimorfi e analisi della struttura cristallina
  • Quantificazione delle tensioni residue e dell’austenite residua
  • Film Sottili, Profili di Profondità e analisi non ambientali
  • Monitoraggio della transizione di fase, struttura e orientamenti preferiti

 

L’ottica consente il passaggio tra Bragg-Brentano, focalizzazione e geometria del fascio parallelo utilizzando Johansson o monocromatori a specchio parabolico.

Gli studi di riflettometria ad alta risoluzione possono essere eseguiti con Explorer per caratterizzare lo spessore dello strato (da 1 a 500 nm con una precisione migliore dell’1%), la densità (con una precisione migliore di ± 0,03 g/cm3), la rugosità superficiale e dell’interfaccia (da 0 a 5 nm con una precisione migliore di ± 0,1 nm).

Le misurazioni a bassi angoli e l’attacco di film sottile per la geometria del fascio parallelo consentono lo studio di film sottili e multistrati.

L’accoppiamento tra uno specchio monocromatore parabolico ed un cristallo tagliato a canale montato sul fascio incidente consente di realizzare un fascio parallelo monocromatico ad alta intensità e bassa divergenza, adatto per misure ad alta risoluzione.

Technical Data

X Ray Generator
Maximum Output Power: 3 kW
Max Output voltage: 60 kV
Max Output current: 60 mA
Voltage Step width: 0.1 kV
Current Step width: 0.1 mA
X-Ray Tube
Glass (option ceramic), Cu anode (option: Co, Fe, Cr, Mo, W, Ag)
0.4 x 12 mm LFF (Long Fine Focus)
(options: 0.4 x 8 mm FF; 1×10 mm NF)
Goniometer
Configuration: Vertical Theta/Theta geometry
Measuring circle diameters: from 400 to 600 mm
Angular Range: – 110° < 2 Theta < + 168° (according to accessories)
Angle positioning: Direct drive torque motors with optical encoders
Smallest selectable stepsize: 0.0001°
Angular accuracy: Better than ± 0.01° over the whole 2-Theta range
Detector 1D/2D detectors
Silicon Drift Detectors (SDDs)
Case
External Dimensions: width 1427 mm, height 1976 mm, depth 1080 mm
Weight: 605 kg
Processing Unit Computer Type: Personal Computer, the latest version
Items controlled: X-ray generator, goniometer, sample holder, detector, counting chain

Software Informations

Data Collection Programs

GNR offers a large variety of acquisition programs, for standard as well as for customized hardware configurations. the list includes programs for powder and high resolution diffractometers, retained austenite, data acquisition of stress (plane and triaxial) and thin films (XRD and GIXRD).

 

SAX

Single peak analysis; peak treatment. Background subtraction, smoothing, deconvolution and peak localisation. Structural Analysis, Crystallite Size, Lattice Strain, Reflectometry, Quantitative Analysis.

 

Search and Match: MATCH!

Rietveld refinement, Display and compare multiple diffraction partners, Directly view specific phases/entries, instant usage of additional information, saving of selection criteria, Comfortable definition of background, Improved zooming facilities, Batch processing and Automatics.

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