La diffrazione di raggi X (XRD) è una tecnica non distruttiva per l’analisi qualitativa e quantitativa dei materiali cristallini, sotto forma di polvere o solido.
GNR ha sviluppato, in collaborazione con utenti accademici e industriali, una serie di diffrattometri tecnicamente avanzati e flessibili in grado di soddisfare diversi livelli di requisiti e diversi budget operativi.
Il portafoglio di prodotti GNR XRD copre una vasta gamma di applicazioni per la caratterizzazione dei materiali e il controllo di qualità di materiali cristallini e non cristallini come polveri, campioni, pellicole sottili o liquidi.
In sostanza la XRD si ottiene come la “riflessione” di un fascio di raggi X da una famiglia di piani atomici paralleli ed equi spaziati, seguendo la legge di Bragg: quando un fascio di raggi X monocromatico con lunghezza d’onda l incide su piani reticolari con un angolo q, la diffrazione si verifica se il percorso dei raggi riflessi da piani successivi (con distanza d) è multiplo della lunghezza d’onda.
L’analisi qualitativa (analisi di fase) può essere effettuata grazie al confronto del diffrattogramma ottenuto dal campione con un enorme numero di pattern inclusi nei database ufficiali. È possibile analizzare singole fasi e/o miscele di fasi con i programmi oggi disponibili.
Molte indagini possono essere eseguite con l’aiuto della diffrazione dei raggi X.
Tensioni Residue: Forze che provocano una piccola compressione o dilatazione della spaziatura D. Con XRD è possibile misurare la deformazione (la deformazione del reticolo originale) e calcolare lo stress grazie alla conoscenza delle costanti elastiche del materiale
Tessitura: è l’orientamento preferito dei cristalliti in un campione. Se in un materiale è presente una tessitura, l’intensità di una linea di diffrazione cambia con l’orientamento del campione rispetto al fascio incidente.
Dimensione dei cristalliti: queste informazioni sono ottenute dall’analisi della larghezza e della forma delle linee di diffrazione.
Analisi strutturale: XRD viene utilizzata per studiare la struttura cristallografica di un materiale. La posizione e le intensità relative delle linee di diffrazione possono essere correlate alla posizione degli atomi nella cella unitaria e alle sue dimensioni. L’indicizzazione, l’affinamento della struttura e la simulazione possono essere ottenuti con specifici programmi informatici.
Film sottili: mantenendo il raggio incidente ad angoli bassi, è possibile indagare le proprietà dei multistrati, riducendo al minimo l’interferenza del substrato. Allo stesso modo, è possibile eseguire la riflettometria.
GNR, grazie ai suoi 40 anni di esperienza, è un produttore sul mercato mondiale di strumenti analitici avanzati
