APD 2000 Pro

Diffrattometro a raggi X da Laboratorio

Il diffrattometro APD 2000 PRO è progettato per essere la migliore soluzione per l’analisi di fase e strutturale di campioni di polvere. Dotato di vari accessori per diversi campi applicativi.

100%

Made in Italy

Controllo qualità metalli

con OES/RDE

Controllo proprietà materiali

con XRD/TXR

World Wide

Distribution

Complete Description

Il diffrattometro APD 2000 PRO è un diffrattometro a raggi X per polveri da laboratorio ad alta potenza – Theta/Theta – dotato di tutte le più moderne caratteristiche tecniche che garantiscono accuratezza, precisione, sicurezza e facilità d’uso per l’analisi XRD di materiali policristallini.

Grazie ad un’ampia offerta di configurazioni e accessori come detector, camera ad alta e bassa temperatura e umidità, monocromatore secondario, spinner e supporto per campioni multipli, APD 2000 PRO è un potente strumento per applicazioni di diffrazione di polveri come quelle di routine analisi di fase qualitativa e quantitativa, analisi non ambientale, soluzione e raffinamento della struttura, calcolo della dimensione dei cristalliti e del grado di cristallinità.

  • Velocità elevata (1000°/min)
  • Riproducibilità dell’angolo ad alta precisione (+/- 0,0001°)
  • Misurazione rapida e dati altamente affidabili
  • Valori angolari estremamente precisi grazie ai motori passo-passo con encoder ottici
  • Facile da gestire

 

Caratteristiche principali dell’APD 2000 PRO

  • Diffrattometro a raggi X per polveri qualitativo e quantitativo
  • Generatore di raggi X ad alta stabilità attraverso circuiti di controllo con feedback di precisione
  • Rampa automatica dell’alta tensione e della corrente di emissione a valori preimpostati
  • Tubi radiogeni in ceramica con elevata riproducibilità e stabilità della posizione del fuoco
  • Tubi microfocali e collimatori policapillari
  • Possibilità di passare automaticamente dalla modalità trasmissione a quella riflessione
  • Goniometro ad alta precisione e alta velocità controllato da encoder ottici
  • Portacampioni tradizionali, rotanti, multicampione e capillari
  • Contatori a scintillazione, strisce di silicio e rivelatori a dispersione di energia
  • Analisi non ambientali, camere a bassa e alta temperatura, dispositivo di umidità

Product Applications

Analisi di fase qualitativa e quantitativa, analisi non ambientale, quantificazione dell’austenite residua, soluzione e affinamento della struttura, calcoli delle dimensioni dei cristalliti e della cristallinità.

  • Geologia e Mineralogia/Argille
  • Vetro/Ceramica/Cemento
  • Prodotti chimici/petrolchimici
  • Catalizzatore/Polimeri
  • Forense
  • Scienze Agrarie
  • Bioscienze/ambientali
  • Prodotti farmaceutici
  • Cosmetici
  • Arte e Archeologia

Technical Data

X Ray Generator
Maximum Output Power: 3 kW
Max Output Voltage: 60 kV
Max Output Current: 60 mA
X-Ray Tube
Glass (option ceramic), Cu anode (option: Co, Fe, Cr, Mo, W, Ag)
Focus: 0.4 x 8 mm FF (Fine Focus) (options: 0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF)
Goniometer
Configurations: Theta/Theta geometry
Measuring circle radius: 160 mm
Scanning Angular Range: – 5° < 2-Theta < + 160° (according to accessories)
Angle positioning: Stepping motors with optical encoders
Angular accuracy: better than ± 0.02° over the whole 2-Theta range
Angular resolution: < 0.04 2-Theta on LaB6 (110) peak
Detector
1D/2D detectors
Silicon Drift Detectors (SDDs)
Case
External Dimensions: 950 W x 789 D x 1952 H mm
Leakage X-rays< 1 mSv/Year (full safety shielding according to the international guidelines)
Processing Unit
Computer Type: Personal Computer, the latest version
Items controlled: X-ray generator, goniometer, sample holder, detector, counting chain

Software Informations

Data Collection Programs

GNR offre un’ampia varietà di programmi di acquisizione, sia per configurazioni hardware standard che personalizzate. l’elenco comprende programmi per polveri e diffrattometri ad alta risoluzione, austenite residua, acquisizione dati di tensioni (piane e triassiali) e film sottili (XRD e GIXRD).

SAX

Analisi del singolo picco; trattamento di punta. Sottrazione, smoothing, deconvoluzione e localizzazione dei picchi del fondo. Analisi strutturale, dimensione dei cristalliti, deformazione reticolare, riflettometria, analisi quantitativa.

Search and Match: MATCH!

Perfezionamento Rietveld, visualizzazione e confronto di più partner di diffrazione, visualizzazione diretta di fasi/voci specifiche, utilizzo immediato di informazioni aggiuntive, salvataggio dei criteri di selezione, comoda definizione dello sfondo, funzionalità di zoom migliorate, elaborazione batch e automatismi.

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