TX 2000 è lo spettrometro da laboratorio all’avanguardia per l’analisi quantitativa di tracce di più elementi utilizzando la fluorescenza a raggi X a riflessione totale (TXRF).
La TXRF è un tipo di fluorescenza a raggi X a dispersione di energia (EDXRF) in cui il fascio colpisce il campione, depositato come strato sottile su un supporto, con un angolo di incidenza molto piccolo, in modo da sfruttare il potenziamento dato dall’effetto di riflessione totale. Per quanto il campione sia sufficientemente sottile (approssimazione del film sottile), i principali punti di forza della tecnica sono:
- analisi multielemento simultanea da Na a Pu
- nessun effetto matrice
- nessuna curva di calibrazione dipendente dalla matrice
- Limiti di rilevamento (LOD) migliorati fino a ng/g o inferiori
- quantità minima di campione
- capacità di microanalisi
TX 2000, dotato di un sistema di commutazione automatica del fascio primario (MoKa, WLa/Lb e bremsstrahlung 33 keV), un rilevatore di deriva al silicio (SDD) e un tubo a raggi X ad alta potenza è la soluzione ottimale per applicazioni in ambito ambientale, chimico e nucleare campi.
Caratteristiche principali della TX 2000
- I motori passo-passo con encoder ottici garantiscono valori angolari estremamente precisi.
- Modalità di eccitazione potenziata mediante selezione dell’energia monocromatica più adatta (W-La/W-Lb/Mo-Ka) fornita dalla combinazione di tubo radiogeno a doppio anodo MO/W e multistrato W/Si. Anche altri anodi a raggi X possono essere monocromatici.
- Rilevatore di deriva al silicio raffreddato tramite Peltier con una risoluzione energetica migliore di 133 eV (FWHM@MnKa, tempo di picco 1 ms)
- Distanza minima tra il campione e il rilevatore (montato sull’asse normale al piano del campione).
- Limiti di rilevazione strumentale inferiori a ng/g.
- Attacco per flusso di elio per migliorare i limiti di rilevamento degli elementi luminosi.
- Nessun effetto matrice
